Developing functional testing environment for printed electronics
Kokko, Tuomas (2018-06-04)
Kokko, Tuomas
T. Kokko
04.06.2018
© 2018 Tuomas Kokko. Tämä Kohde on tekijänoikeuden ja/tai lähioikeuksien suojaama. Voit käyttää Kohdetta käyttöösi sovellettavan tekijänoikeutta ja lähioikeuksia koskevan lainsäädännön sallimilla tavoilla. Muunlaista käyttöä varten tarvitset oikeudenhaltijoiden luvan.
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:oulu-201806052455
https://urn.fi/URN:NBN:fi:oulu-201806052455
Kokoelmat
- Rajattu saatavuus [10930]