|
|
Tunnelointimikroskopia, STM |
|---|---|
| Author: | Asikainen, Kati1 |
| Organizations: |
1University of Oulu, Faculty of Science, Physics |
| Format: | ebook |
| Version: | published version |
| Access: | open |
| Online Access: | PDF Full Text (PDF, 0.6 MB) |
| Pages: | 27 |
| Persistent link: | http://urn.fi/URN:NBN:fi:oulu-202004301580 |
| Language: | Finnish |
| Published: |
Oulu : K. Asikainen,
2020
|
| Publish Date: | 2020-04-30 |
| Thesis type: | Bachelor's thesis |
| Description: |
Tiivistelmä Tunnelointimikroskopia (Scanning Tunneling Microscopy, STM) on kokeellinen pintatutkimusmenetelmä, jonka avulla pystytään kuvantamaan materiaalien pintojen atomitason rakennetta. STM-kuvan muodostamisessa hyödynnetään kärjen ja pinnan välillä havaittavaa kvanttimekaanista tunneloitumista. Kokeellisten kuvien teoreettinen ja laskennallinen mallintaminen on avain niiden ymmärtämiseen ja tulkitsemiseen. Tässä tutkielmassa tutustutaan tunnelointimikroskopiaan. Tarkoitus on perehtyä tutkimusmenetelmään kokonaisvaltaisesti. Selvitetään mikroskoopin toiminta ja rakenne sekä siihen liittyvä teoreettinen tausta. Ennen syventymistä tunnelointimikroskopian osuuteen käsitellään tunneloitumisilmiöön liittyvä teoria kvanttimekaniikan avulla. see all
|
| Subjects: | |
| Copyright information: |
© Kati Asikainen, 2020. This publication is copyrighted. You may download, display and print it for your own personal use. Commercial use is prohibited. |